计算机系统结构复习

I/O 与外存系统

本章重点是可靠性与 RAID。复习时把 I/O 性能指标、可靠度公式、RAID 各级特点放在一起记,计算题就会清楚很多。

来源:刘皓源——第八章IO-外存系统.pdf I/O 性能可靠性可用性串联系统并联系统RAID
9复习段落
12讲义截图
5自测问题
怎么用本页

先看主线,再背公式,最后做题

每个专题页都按“概念框架、公式变量、典型题型、原讲义对照、自测问题”组织。复习时从左侧目录跳转,遇到计算题直接回到高亮公式段。

本页材料 9 个复习段落

12 页原讲义截图可展开核对,适合考前查原表、原图和例题。

重点标签
I/O 性能可靠性可用性串联系统并联系统RAID
原资料预览 刘皓源——第八章IO-外存系统.pdf

正文已经把知识点重新组织;这里保留讲义页面缩略图,方便你在需要时回看原版题目、图和表。

I/O 与外存系统 原 PDF 预览第 1 页
第 1 页
I/O 与外存系统 原 PDF 预览第 2 页
第 2 页
I/O 与外存系统 原 PDF 预览第 3 页
第 3 页

1. I/O 系统做什么

I/O 系统完成计算机和外界的信息交换,也为计算机提供大容量外部存储器。课程重点偏向存储 I/O 系统。

  • I/O 系统包括 I/O 设备,以及 I/O 设备与处理机之间的连接。
  • I/O 系统性能会影响 CPU 性能,性能不匹配时可能成为整个系统瓶颈。
  • 评价参数包括连接特性、容量、响应时间、吞吐率、I/O 操作对 CPU 的打扰情况。
  • 用户感受到的响应时间通常包含 I/O 响应时间和 CPU 处理时间。

2. 可靠性、可用性、可信性

概念含义常用指标
可靠性 Reliability系统从某个初始参考点开始连续提供服务的能力。MTTF;失效率 = 1 / MTTF。
可用性 Availability系统正常工作时间在正常服务间隔中的比例。MTTF / (MTTF + MTTR)。
可信性 Dependability服务质量,即多大程度上可合理认为服务可靠。通常不可直接度量。
Availability = MTTF / (MTTF + MTTR)

3. 串联、并联与混联系统

串联系统

所有组件都正常,系统才正常。任意一个组件失效,系统失效。

Rs = R1 × R2 × ... × Rn

并联系统

只要至少一个组件正常,系统就正常。全部组件失效,系统才失效。

Rs = 1 - Π(1 - Ri)

混联系统先判断结构:RAID 0+1 可理解为先条带再镜像,RAID 1+0 可理解为先镜像再条带。资料里用串并联系统、并串联系统公式来解释两者可靠性差异。

4. RAID 分级速查

级别核心思想性能/可靠性印象
RAID 0条带化,无冗余。性能高,可靠性差,任一盘坏可能丢数据。
RAID 1镜像,数据有一份备份。读快,写需写两份,可靠性高,成本高。
RAID 2位交叉,汉明码校验。概念性强,商业应用少。
RAID 3位交叉,单独奇偶校验盘。细粒度,适合大块连续传输。
RAID 4块交叉,单独奇偶校验盘。小写会集中访问校验盘,可能成为瓶颈。
RAID 5块交叉,奇偶校验分布在所有盘。消除 RAID4 单校验盘热点,常用。
RAID 6P + Q 双校验。可容忍两个磁盘故障,校验开销更大。
RAID 10先镜像 RAID1,再条带 RAID0。可靠性通常优于 RAID01,性能也较好。
RAID 01先条带 RAID0,再镜像 RAID1。条带组中一盘故障会影响整个组,容错较弱。

5. RAID 写操作直觉

RAID4/5 的小写操作常见计算是“读旧数据、读旧校验、写新数据、写新校验”,也就是 2 次读和 2 次写。原因是奇偶校验需要根据旧值和新值更新。

新校验 = 旧校验 xor 旧数据 xor 新数据

如果是整条带写,可以重新计算整条带校验,开销模型会不同。做题时先看题目说的是小写、整条带写还是磁盘故障恢复。

6. RAID 实现方式

方式特点
软件方式阵列管理由主机软件完成,成本低但占用主机资源。
阵列卡方式RAID 管理固化在 I/O 控制卡上,减少主机负担。
子系统方式独立外部存储子系统,可服务多种主机平台。

7. 考前抓手

可靠度题先画结构:串联相乘,并联算“不是全部失效”。
RAID 题先判断条带粒度和冗余位置:无冗余、镜像、专用校验盘、分布式校验。
比较 RAID10 和 RAID01 时,用“先镜像再条带”更可靠这个直觉。

8. 公式与习题精讲

可靠度公式

结构公式做题判断
串联系统R = R1 x R2 x ... x Rn任一部件坏,系统坏。
并联系统R = 1 - (1 - R1)(1 - R2)...(1 - Rn)全部部件坏,系统才坏。
同失效率串联λs = Σλi,MTTF = 1/λs指数分布下可用。
n 个相同部件并联MTTF = (1/λ)(1 + 1/2 + ... + 1/n)资料并联系统推导结果。
可用性Availability = MTTF/(MTTF + MTTR)MTTR 越小,可用性越高。

混联系统

设单元可靠度为 Ri(t),每串 n 个单元,再并联 m 组,是串并联系统:

R(t) = 1 - {1 - [Ri(t)]^n}^m

每组 m 个并联单元,再串联 n 组,是并串联系统:

R(t) = {1 - [1 - Ri(t)]^m}^n

资料对应:RAID 0+1 是串并联系统,RAID 1+0 是并串联系统。

RAID 容量与小写

RAID可用容量粗略公式可靠性/写开销
RAID0nD无冗余,任一盘坏会影响数据。
RAID1nD/2镜像,读可并行,写两份。
RAID5(n - 1)D分布式奇偶校验,可容忍 1 盘故障。
RAID6(n - 2)D双校验,可容忍 2 盘故障。
RAID10nD/2先镜像再条带,通常比 RAID01 更可靠。
RAID4/5 小写:读旧数据 + 读旧校验 + 写新数据 + 写新校验 = 2 次读 + 2 次写
新校验 = 旧校验 xor 旧数据 xor 新数据

故障恢复题

单盘故障时,缺失数据可由同一条带的其他数据和校验异或恢复:

丢失盘数据 = 校验 xor 其他所有数据盘数据

9. 原题练习区

RAID10 镜像磁盘阵列的系统可靠度

一个镜像磁盘冗余阵列由 4 个磁盘配置为 RAID10 级,其结构如图,采用双控制器 RC 结构,任何一个阵列控制器失效不影响系统工作。已知各部分可靠度为:阵列控制器 R1 = 0.9,通道适配器 R2 = 0.95,磁盘 R3 = 0.95。

  1. 写出系统可靠性的表达式。
  2. 画出系统可靠性框图。
  3. 计算 R 的数值,保留小数点后两位。
展开答案要点

可靠性模型:两个控制器并联、通道适配器串联、三组镜像磁盘串联。

表达式:R = [1 - (1 - R1)^2] x R2 x [1 - (1 - R3)^2]^3。

代入:R = [1 - (1 - 0.9)^2] x 0.95 x [1 - (1 - 0.95)^2]^3 ≈ 0.93。

自测问题

合上正文后先试着口答,再展开看答案。能把这些问题讲清楚,本章主线基本就稳了。

01可靠性、可用性、可信性分别是什么意思?

可靠性强调连续无故障服务能力,可用性强调正常服务时间比例,可信性描述服务质量信任程度。

02串联系统和并联系统可靠度怎么计算?

串联可靠度相乘;并联可靠度等于 1 减去所有部件都失效的概率。

03RAID 的两个核心收益是什么?

通过数据条带化提高并行性能,通过镜像或校验冗余提高可靠性。

04RAID5 小写为什么常有 4 次 I/O?

需要读旧数据、读旧校验、写新数据、写新校验,用旧校验 xor 旧数据 xor 新数据得到新校验。

05RAID10 通常为什么比 RAID01 更可靠?

RAID10 先镜像再条带,每组镜像中只要保留一个盘即可;RAID01 一侧条带失效后容错能力下降更明显。

原 PDF 页面截图

下面是原资料的页面渲染图,正文复习完后可以展开对照图、公式和例题。